放射光, vol. 26, no. 1, pp. 38–43

著者:

  • 河野 秀俊
  • 池田 思朗

キーワード:

  • スパースモデリング
  • X線回折
  • 単粒子構造解析

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Abstract:

SPring8に建設された短パルスかつ大強度のコヒーレントX線源は、生体高分子など単粒子での構造解析が期待されている。しかし、この従来の10億倍の輝度を持つ光を照射すると粒子は破壊されてしまうため、そうなる前の短時間(数fs以内)に回折パターンを観測しなくてはならない。そのため、測定される回折強度は弱いものになってしまう。われわれは、従来の方法よりも粗い回折パターンから位相回復できるベイズ統計にもとづいたアルゴリズムを開発したので、本稿で紹介する。